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為了保證電機(jī)在運(yùn)行過程中,轉(zhuǎn)矩的變化不破壞定子和殼體的連接,現(xiàn)在主流的設(shè)計(jì)是定子和殼體采用過盈配合的方式。在此制造工藝過程中,過盈配合對(duì)扁線繞組、定子和殼體表面尺寸提出了更高的精度要求。
為了 獲取更精確的全域數(shù)據(jù),以獲得超出圖紙要求的產(chǎn)品完整信息,并且可以實(shí)現(xiàn)數(shù)字化裝配,蔡司推出了能夠高效獲取數(shù)據(jù)的蔡司ATOS三維光學(xué)測(cè)量?jī)x,這點(diǎn)對(duì)于從研發(fā)到品控具有更深層的意義。
并且在尺寸測(cè)量領(lǐng)域,全域數(shù)據(jù)在進(jìn)行形位公差測(cè)量的同時(shí),還可以針對(duì)被測(cè)工件與其CAD 3D模型進(jìn)行曲面比較。使用后可以通過色差圖非常直觀地獲取產(chǎn)品表面誤差信息。
在生產(chǎn)過程中,采用過盈配合工藝,全域數(shù)據(jù)可以用于過程中的失效分析。通過采集裝配失效工件的全域數(shù)據(jù),使用軟件進(jìn)行虛擬交叉裝配,并模擬應(yīng)力。這也是當(dāng)前電驅(qū)企業(yè)開發(fā)和質(zhì)量控制數(shù)字化轉(zhuǎn)型的重點(diǎn)發(fā)展方向。